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FA 07
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Volumeneffekte und technische Zuverlässigkeit von bleifreien Lötstellen
IGF-Vorhaben-Nr.:
00.132 Z
Laufzeit:
01.11.2003
-
30.04.2006
Forschungseinrichtungen:
- Institut für Aufbau- und Verbindungs- technik der Elektronik
- Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie
- Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM
Fachgebiete:
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Wirtschaftszweige:
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