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FA 10
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ObMod - Modellierung der Bruchwahrscheinlichkeit von Halbleiterbauelementen mit Oberflächendefekten
IGF-Vorhaben-Nr.:
17.790 B
Laufzeit:
01.07.2013
-
31.12.2014
Forschungseinrichtungen:
- Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS
- Institut für Mikrosystemtechnik Prof. für Aufbau und Verbindungstechnik
Fachgebiete:
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Wirtschaftszweige:
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