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FA 10
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Erhöhung der Lötsicherheit beim Einsatz mikrolegierter Lote in der Fertigung elektronischer Baugruppen
IGF-Vorhaben-Nr.:
17.941 N
Laufzeit:
01.12.2013
-
30.11.2015
Forschungseinrichtungen:
- Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie
Fachgebiete:
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Wirtschaftszweige:
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