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FA 10
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Einfluss des Lotpastendrucks auf die Zuverlässigkeit der Lötstellen kritischer keramischer SMD-Komponenten auf Leiterplatten
IGF-Vorhaben-Nr.:
17.405 N
Laufzeit:
01.02.2012
-
31.10.2014
Forschungseinrichtungen:
- Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie
Fachgebiete:
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Wirtschaftszweige:
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